前不久,新思科技揭曉其下一代ATPG和診斷解決方案TetraMAX®II。該方案結合了2015年10月在國際測試大會上發布的創新測試引擎。TetraMAXII能夠將運行時的速度提高至少一個數量級,將ATPG運行時從數天縮短到數小時,確保在初步硅晶樣品首次用于測試時將向量準備就緒。此外,TetraMAXII生成的向量數量減少25%,使IC設計團隊能夠縮短測試硅晶部件的時間并減低成本,而且還能應汽車等特殊市場細分的要求,在不影響測試成本的前提下提升測試質量。經過生產驗證的ATPG界面的復用可以確保無風險地輕松部署到設計和測試流程中。用戶將在班加羅爾里拉皇宮酒店(LeelaPalaceHotel)舉辦的Synopsys用戶集團(SNUG)印度會議上分享其對TetraMAXII的使用體驗。
據Synopsys設計集團執行副總裁兼總經理AntunDomic表示:“世界各地的設計人員依靠Synopsys基于綜合的測試解決方案來在其最具挑戰性的設計上實現最高的測試質量。TetraMAXII證明我們在不斷踐行承諾,提供創新和突破性測試技術,并且滿足客戶對于更快ATPG和診斷的需求以及減少硅晶測試時間的需求。”
Synopsys基于綜合的測試解決方案包括用于可測試性分析的SpyGlass®DFTADV、以及基于功耗敏感測試與硅片診斷的DFTMAX,DFTMAXUltra、TetraMAXI和TetraMAXII;用于IP和SoC內核分層測試的DesignWare®STARHierarchicalSystem;用于嵌入式測試、修復和診斷的DesignWareSTARMemorySystem®解決方案;用于以設計為中心產量分析的YieldExplorer工具;以及用于CAD導航的Camelot™軟件系統。Synopsys的測試解決方案結合了DesignCompiler®RTL綜合以及嵌入式測試技術,可優化時序、功率、區域、擁塞,以供測試之用,還可優化功能邏輯,從而在更短時間內獲得成果。Synopsys測試解決方案提供跨SynopsysGalaxyDesignPlatform的緊密集成,包括DesignCompiler、ICCompiler™II布局和繞線工具,以及PrimeTime時序驗收,以實現更短的周轉時間,同時滿足設計與測試目標,實現更高的缺陷覆蓋以及更快的良率提升。
更為重要的是,SGS-TÜVSaarGmbH是可信任的獨立評估方,正式鑒定認可了TetraMAXII,并認可TetraMAXII擁有深度功能安全資格。該認證為使用TetraMAXII進行安全關鍵型汽車應用設計的設計人員提供了極深的信心,加速了汽車IC的功能安全資格的獲得,包括最為嚴格的汽車安全完整性等級(ASILD)要求。
在交付完全智能駕駛汽車的過程中,汽車制造商正在快速部署先進駕駛輔助系統(ADAS),幫助司機減少事故。由于這些系統中的故障可能導致不可接受的后果,汽車制造商會與其供應商合作提高IC質量、可靠性和功能安全。通過測試多個故障模型,同時盡量減小對測試成本和測試向量生成時間的影響,TetraMAXII支持工程師以更高的IC測試質量為目標,這是汽車產品的關鍵要求。為了確保使用最佳工程實踐盡量減小故障風險,從而避免影響汽車IC的功能安全元素,ISO26262定義了開發過程中使用的軟件設計工具的資格要求。SGS-TÜVSaarGmbH鑒定TetraMAXII符合ASILD標準,這是ISO26262規定的最高等級的功能安全標準。
SGS-TÜVSaarGmbH功能安全軟件部門產品經理GudrunNeumann說:“符合ISO26262認證資格的工具,可以幫助提高工程師對于EDA軟件工具的信心,放心地為電子安全系統開發汽車IC。工具達到ISO26262最嚴格的ASILD應用要求,IC設計團隊就能促進產品符合整體功能安全認證要求。Synopsys的TetraMAXIIATPG符合開發安全相關電子系統所用軟件工具的ASILD安全要求。SGS-TÜVSaarGmbH鑒定TetraMAXII是基于其在驗證流程的功能安全評估中達到了ISO26262要求。”
Synopsys設計集團營銷副總裁BijanKiani說:“世界各地的Synopsys汽車IC客戶都相信TetraMAXATPG能讓其最復雜的設計實現最佳測試質量和最低測試成本。我們的新TetraMAXIIATPG解決方案支持我們踐行承諾,幫助汽車IC設計團隊加速制造中的測試開發。它可以將ATPG運行時從數天加快到數小時,并通過將向量數量減少25%來降低測試成本。對于汽車IC應用而言,TetraMAXII提供了機會,可使用多個故障模型提高測試質量,而不對測試成本和測試生成時間造成顯著影響。此外,TetraMAXII認證可幫助達到ISO26262標準的功能安全要求。”
憑借TetraMAX®IIATPG,意法半導體極大加快了測試向量生成運行時間,并減少了向量數量。意法半導體面臨著其系統級芯片(SoC)復雜性增加和上市時間日程縮短的挑戰。為了應對這些挑戰,意法半導體需要快速的周轉時間來生成高質量的制造測試向量。TetraMAXII使用數百萬門FD-SOISoC設計來跟蹤評估,在不影響測試覆蓋的前提下顯示了運行時速度的數量級增長以及測試向量數量的大幅減少。結果,意法半導體正在其標準SoC設計流程中部署TetraMAXII。
意法半導體數字及混合工藝ASIC部SoC集成和DFT方法經理RobertoMattiuzzo表示:“在過去幾年中,我們與Synopsys通力合作,共同應對復雜性和制造成本增加以及更優質、更快速周轉時間需求等日益增長的制造測試挑戰。在我們對高密度FD-SOI芯片評估的過程中,TetraMAXII生產測試向量的速度加快了一個數量級,同時在不造成任何覆蓋損失的前提下大幅減少了向量的數量。因此,我們有信心更早地測試第一個硅晶樣品,并且縮短測試時間。”
Synopsys設計集團執行副總裁兼總經理AntunDomic表示:“意法半導體等客戶依靠Synopsys的測試解決方案來確保快速周轉時間、低測試成本和高質量的最佳組合。我們與意法半導體的長期合作不斷壯大。憑借其TetraMAXII評估的最新成果,我們再次展示了我們持續提供ATPG和相關技術創新以應對客戶制造測試挑戰的堅定承諾。”
東芝同樣已經確認SynopsysTetraMAX®IIATPG能夠極大加快測試向量生成,縮短生產測試時間,并降低成本。由于即將推出的復雜SoC測試質量要求高,設計進度要求緊迫,東芝設計人員決定他們需要一種更快速的ATPG解決方案,以便在確保充分功率感知的同時,大量減少生成的測試向量。為了滿足這些需要,并且隨后全面評估的結果顯示向量數量減少達50%,運行速度顯著加快,并擁有先進的功率感知功能,東芝計劃為其最新的消費電子SoC設計部署TetraMAXII。東芝將于7月13日在班加羅爾里拉皇宮大酒店(LeelaPalaceHotel)召開的Synopsys用戶群(SNUG)印度用戶大會上分享其使用TetraMaxII的經驗。
東芝設計技術開發部高級經理KazunariHorikawa表示:“較長的ATPG運行時間以及日益增長的測試向量數量正在為我們的大規模SoC設計帶來越來越大的挑戰。在保持測試質量的同時實現測試成本最小化,這需要減少測試向量并縮短運行時間。我們一直在與Synopsys合作,并且通過評估確認:TetraMaxII在保持測試質量的同時,能夠縮短ATPG執行時間,并將測試向量的數量減少高達50%。我們計劃在在即將推出的SoC設計上采用TetraMAXII,并且相信TetraMAXII將憑借其強大的路線圖,進一步降低測試成本。”
Synopsys設計群組執行副總兼總經理AntunDomic表示:“Synopsys致力于滿足世界各地設計人員不斷發展的測試需求。我們與東芝近期的合作展示了我們對新型測試技術的持續創新和投入,這使我們能夠在設計復雜性不斷增長之時,滿足客戶對于縮短生產測試時間和加快ATPG的需求。”
整體而言,TetraMAXII在新的測試向量生成、故障模擬和診斷引擎上構建,這些引擎十分快速、極為節省內存,并經過高度優化,適合生成向量和執行精細化多線程的ATPG和診斷流程。這些創新導致了測試向量的顯著減少,并將ATPG時間從數天減少到數小時。TetraMAXII的內存效率允許利用所有服務器內核,而不計設計尺寸,因而勝過了之前受限于高內存使用率的解決方案。經過生產驗證的設計建模與規則檢查架構的復用以及用戶和工具界面可確保設計人員能快速、無風險地在極具挑戰性的設計上部署TetraMAXII。此外,TetraMAXII還利用與GalaxyDesignPlatform工具建立的鏈接提供最高質量的測試和最快速、生產力最高的流程,這些工具有DFTMAX™壓縮、PrimeTime®時序分析和StarRC™提取,還有包括YieldExplorer®以設計為中心的產量分析和Verdi®調試工具在內的其他Synopsys工具。